薄膜測(cè)厚儀,又稱為測(cè)厚儀、薄膜厚度檢測(cè)儀、薄膜厚度儀等,薄膜測(cè)厚儀專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測(cè)量。
設(shè)備用途:
塑料包裝材料厚度是否均勻是檢測(cè)其各項(xiàng)性能的基礎(chǔ)。包裝材料厚度不均,會(huì)影響到阻隔性、拉伸強(qiáng)度等性能;對(duì)材料厚度實(shí)施高精度控制也是確保質(zhì)量與控制成本的重要手段。
薄膜測(cè)厚儀分類:
薄膜測(cè)厚儀根據(jù)其測(cè)量方式的不同,可分為:
接觸式薄膜測(cè)厚儀:點(diǎn)接觸式,面接觸式。
非接觸式薄膜測(cè)厚儀:射線,渦流,超聲波,紅外等
注:我們所能見到的包裝材料實(shí)驗(yàn)室厚度測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn),包括國(guó)家標(biāo)淮,、美國(guó)、日本、歐洲標(biāo)準(zhǔn)等均采用機(jī)械式測(cè)厚中的面接觸測(cè)厚的方式,同時(shí)該方法也被作為薄膜,鋁箔,紙張等材料的仲裁方法。
接觸式設(shè)備
薄膜測(cè)厚儀應(yīng)用范圍
采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式,嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求,有效保
接觸式薄膜測(cè)厚儀
證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測(cè)量。
技術(shù)特征
嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的接觸面積和測(cè)量壓力,同時(shí)支持各種非標(biāo)定制
測(cè)試過程中測(cè)量頭自動(dòng)升降,有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差
支持自動(dòng)和手動(dòng)兩種測(cè)量模式,方便用戶自由選擇
實(shí)時(shí)顯示測(cè)量結(jié)果的大值、小值、平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù),方便用戶進(jìn)行判斷
配置標(biāo)準(zhǔn)量塊用于系統(tǒng)標(biāo)定,保證測(cè)試的精度和數(shù)據(jù)一致性
系統(tǒng)支持?jǐn)?shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、打印等許多實(shí)用功能,方便快捷地獲取測(cè)試結(jié)果
系統(tǒng)由微電腦控制,搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板,方便用戶進(jìn)行試驗(yàn)操作和數(shù)據(jù)查看
標(biāo)準(zhǔn)的RS232接口,便于系統(tǒng)的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸
支持Lystem™實(shí)驗(yàn)室數(shù)據(jù)共享系統(tǒng),統(tǒng)一管理試驗(yàn)結(jié)果和試驗(yàn)報(bào)告
非接觸式設(shè)備
英國(guó)公司研發(fā)出的非接觸式測(cè)量方法測(cè)厚儀,可以實(shí)現(xiàn)對(duì)薄膜的非接觸式測(cè)量,避免對(duì)紙張?jiān)斐尚巫円鹫`差。
測(cè)量原理
使用兩個(gè)激光傳感器安裝在被測(cè)物(紙張)上下方,將傳感器固定在穩(wěn)定的支架上,確保兩個(gè)傳感器的激光能對(duì)在同一點(diǎn)上。隨著被測(cè)物的移動(dòng)傳感器就開始對(duì)其表面進(jìn)行采樣,分別測(cè)量出目標(biāo)上下表面分別與上下成對(duì)的激光位移傳感器距離,測(cè)量值通過串口傳輸?shù)接?jì)算機(jī),再通過我們?cè)谟?jì)算機(jī)上的測(cè)厚軟件進(jìn)行處理,得到目標(biāo)的厚度值。
非接觸式薄膜測(cè)厚儀的出現(xiàn),大大提高了紙張等片材厚度測(cè)量的精度,尤其是在自動(dòng)化生產(chǎn)線上,得到廣泛應(yīng)用。